叠层扫描成像技术论文

基于叠层扫描成像技术的成像透镜透射波前测量方法
论文摘要将叠层扫描成像技术(ePIE)用于成像透镜透射波前的高精度测量。将透镜的透射光束照射至一个固定于二维扫描台的衍射物上,并在其后的探测器上形成衍射光斑,扫描台横向扫描并记...