亚稳态缺陷论文_张博,王建宝,刘晓晗,龚大卫,陆方

导读:本文包含了亚稳态缺陷论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译,主要关键词:亚稳态,缺陷,晶格,能级,量子,论文,电子。

亚稳态缺陷论文文献综述

张博,王建宝,刘晓晗,龚大卫,陆方[1](1997)在《亚稳态Ge_xSi_(1-x)/Si单量子阱的缺陷性质》一文中研究指出对于处在亚稳态生长区域内阱宽为15um锗组分x=0.25、0.33、0.40的单量子阱样品,及阱宽相同x=0.45、0.53的单量子阱样品,首先通过喇曼光谱测量了样品的应变弛豫程度,发现当锗组分增加到X≥0.45时,其应变开始逐渐弛豫,然后通过测量深能组瞬态谱(DLTS),研究应变弛豫程度不同的样品中形成的缺陷性质。在X=0.25、0.33、0.40样品中均可以观察到量子阱中载流子发射产生的DLTS峰,由它求得的能带们移值与理论预计值符合。对于X=0.45、0.53样品阱中载流子发射信号已被缺陷信号淹没,表明此时样品的缺陷浓度很大。相应的缺陷情况是:对于应变未弛豫的样品(X=0.25),DLTS测得的缺陷为一点缺陷;对于应变基本未弛豫的样品(X=0.33、0.40)DLTS测得的缺陷主要为一组界面缺陷;而应变部分弛豫的样品(X=0.45、0.53),DLTS测得的缺陷与前叁种样品不同,样品的缺陷可能与形成的穿透位错有关。通过电化学腐蚀,可以确定这些缺陷均位于异质界面附近。(本文来源于《固体电子学研究与进展》期刊1997年02期)

封松林,周洁,卢励吾[2](1994)在《超晶格电子辐照缺陷的亚稳态特性》一文中研究指出用深能级瞬态谱(DLTS)系统地研究了GaAs(50A)/GaAlAs(50A)超晶格中的电子辐照缺陷,证实其亚稳态特性的存在,对其恢复温度、转变条件进行了研究,指出在体材料中不能观察到电子辐照缺陷亚稳态的原因.(本文来源于《红外与毫米波学报》期刊1994年03期)

亚稳态缺陷论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

用深能级瞬态谱(DLTS)系统地研究了GaAs(50A)/GaAlAs(50A)超晶格中的电子辐照缺陷,证实其亚稳态特性的存在,对其恢复温度、转变条件进行了研究,指出在体材料中不能观察到电子辐照缺陷亚稳态的原因.

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

亚稳态缺陷论文参考文献

[1].张博,王建宝,刘晓晗,龚大卫,陆方.亚稳态Ge_xSi_(1-x)/Si单量子阱的缺陷性质[J].固体电子学研究与进展.1997

[2].封松林,周洁,卢励吾.超晶格电子辐照缺陷的亚稳态特性[J].红外与毫米波学报.1994

论文知识图

不同氧氩比下的AZO薄膜XRD图谱纳米晶AZO薄膜的TEM图谱结构AZO紫外探测器未封装与封装后...不同B推杂cz一Si处理衰减后稳定少子寿命...4-5间隙Bi°和本征点缺陷POR-E...4-3间隙Bi°和本征点缺陷POL的反...

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